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PROUCTS LIST
產(chǎn)品型號(hào): MiniTest600BN
所屬分類:涂層測(cè)厚儀
產(chǎn)品時(shí)間:2024-07-23
簡(jiǎn)要描述:德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀S5麥考特測(cè)厚儀根據(jù)量程大小可分為G6,F(xiàn)6,G7,F(xiàn)7,S3,S5,S10和S20以及筆式測(cè)厚儀等各種不同規(guī)格的測(cè)厚儀,Z小的測(cè)量范圍是0-100微米,Z大的是7.5-20毫米;又根據(jù)表現(xiàn)形式分為圓盤指針式的和數(shù)字顯示的(如新型的G7,F(xiàn)7
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀S5
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀S5 所有MikroTest涂層測(cè)厚儀都是依據(jù)磁吸力的測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。
的詳細(xì)介紹
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀S5
一、 MikroTest涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品名錄
麥考特測(cè)厚儀根據(jù)量程大小可分為G6,F(xiàn)6,G7,F(xiàn)7,S3,S5,S10和S20以及筆式測(cè)厚儀等各種不同規(guī)格的測(cè)厚儀,zui小的測(cè)量范圍是0-100微米,zui大的是7.5-20毫米;又根據(jù)表現(xiàn)形式分為圓盤指針式的和數(shù)字顯示的(如新型的G7,F(xiàn)7等);還根據(jù)外觀的不同分為香蕉形的(俗稱)和筆式測(cè)厚儀,特別要注意的是,EPK還有二種特殊規(guī)格的麥考特測(cè)厚儀:即測(cè)量銅鋁塑料基底上鍍鎳的Ni50,Ni100和測(cè)量鐵基底上鍍鎳的NiFe50。
二、 MikroTest涂層測(cè)厚儀測(cè)量原理及應(yīng)用
所有MikroTest涂層測(cè)厚儀都是依據(jù)磁吸力的測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。測(cè)量磁鋼與磁性基體間的磁吸力與盤狀彈簧的彈力平衡,盤狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層厚度有直接關(guān)系。
MikroTest涂層測(cè)厚儀中G6,F(xiàn)6,G7,F(xiàn)7,S3,S5,S10和S20型主要用于測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性涂鍍層;Ni50和Ni100主要用于測(cè)量銅鋁塑料基底上鍍鎳;NiFe50主要用于測(cè)量鋼鐵基體上的鍍鎳層。
三、 MikroTest涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
型 號(hào) | 測(cè)量范圍 | 讀 值 精 度 ± | zui小測(cè)量區(qū)直徑mm | 基體zui小厚度mm | 適 用 場(chǎng)合 |
Mikrotest 6 G | 0-100um | 1um或5%讀值 | 20mm | 0.5 | 鋼、鐵基體上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層等 |
Mikrotest 6 F | 0-1000um | 3um或5%讀值 | 30mm | 0.5 | |
Mikrotest 6 S3 | 0.2-3mm | 5%讀值 | 30mm | 1.0 | |
Mikrotest 6 S5 | 0.5-5mm | 5%讀值 | 50mm | 1.0 | |
Mikrotest 6 S10 | 2.5-10mm | 5%讀值 | 50mm | 2.0 | |
Mikrotest 6 S20 | 7.5-20mm | 5%讀值 | 100mm | 7.0 | |
Mikrotest 6 Ni50 | 0-50um | 1um或5%讀值 | 15mm |
| 非鐵基體上鍍鎳層 |
Mikrotest 6 Ni100 | 0-100um | 1um或5%讀值 | 15mm |
| |
Mikrotest NiFe50 | 0-50um | 2um或8%讀值 | 20mm | 0.5 | 鋼鐵基體上電鍍鎳 |
Mikrotest 7 G | 0-300um | 2um或3%讀值 | 20mm | 0.5 | 鋼、鐵基體上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層等 |
Mikrotest 7 F | 0-1500um | 5um或3%讀值 | 30mm | 0.5 | |
Mikrotest 7 S5 | 0.5-5mm | 4%讀值 | 50mm | 1.0 | |
Mikrotest 7 S15 | 3.0-15mm | 4%讀值 | 100mm | 7.0 |
注:表中鋼鐵基體均指未硬化鋼鐵(C15到C45)
四、MikroTest涂層測(cè)厚儀使用過程中注意事項(xiàng)
推動(dòng)指輪時(shí),不要觸動(dòng)按鈕;
盡量保證測(cè)量點(diǎn)與兩支撐點(diǎn)在同一平面上;
在粗糙表面測(cè)量時(shí),讀數(shù)將偏大。要多次測(cè)量求取平均值;
測(cè)量柱體或圓形邊緣時(shí),一定要利用儀器測(cè)嘴的V型口;
測(cè)量含碳量高或經(jīng)過熱處理后的硬質(zhì)鋼上涂層時(shí),測(cè)值會(huì)偏大;
基體厚度小于臨界厚度時(shí),測(cè)值會(huì)偏大;
在凸凹測(cè)量會(huì)對(duì)測(cè)值有影響,在凸面時(shí)測(cè)值偏大、凹面時(shí)測(cè)值偏??;
五、 MikroTest涂層測(cè)厚儀的維護(hù)與保養(yǎng)
保證測(cè)厚儀遠(yuǎn)離*磁鐵或電磁鐵,遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng);
切勿猛烈碰撞
測(cè)厚儀使用完后指輪一定要反時(shí)針旋轉(zhuǎn)到二分之一刻度以上的位置再放置在存放點(diǎn);
六、 MikroTest涂層測(cè)厚儀的維修
針對(duì)轉(zhuǎn)盤停不?。嚎烧{(diào)整卡位銷;
針對(duì)轉(zhuǎn)盤推不動(dòng):檢查驅(qū)動(dòng)發(fā)條、齒輪組;
針對(duì)測(cè)值不準(zhǔn):要用工具調(diào)整彈簧;
齒輪組卡位:清洗齒輪組;
七、 MikroTest涂層測(cè)厚儀的符合標(biāo)準(zhǔn)
DIN 50981,50982;
ASTM B499,E367,D1186,B530,G12;
BS5411;
DIN EN ISO 2178,2361